碳化硅吸波材料(Silicon Carbide Absorbing Materials)

材料特性:

● 1300度高温烧结而成 

● L波段及以上反射率优于-25dB 满足中国空间技术研究院Q/W1215-2009《航天器射频部件与设备微放电试 验方法》用于真空微放电试验要求;

●可根据用户要求研制不同频段吸波性能更优的吸波体 

●通过对比测试,已确认碳化硅吸波体在高低温范围内的吸波性能稳定性 (按用户需求目前测试-50℃~150℃) 

●经液氮作用后结构仍保持完整 

●比重:2-2.3g/cm3 

●导热率:≥5w/mk 

●表面发射率:0.89









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环境适应性:

1)真空挥发性能 

总质量损失(TML):0.005% 

收集到可凝挥发物(CVCM):0.001% 

按航天部标准QJ1558-88 《真空中材料挥发性能测试方法》测试;TML1%; CVCM0.1%为航天真空环境下所允许使用材料的选择标准,碳化硅吸波材料具有极其优越的真空适用性。


2. 耐高功率特性:

耐高功率50KW/m2 

吸波体经高温(1300℃以上)烧结生成,高温强度大、抗蠕变、耐腐蚀;吸波体材料中不含有会因高温而氧化,由此改变吸波性能的成分(如铁氧 体、羰基铁等),抗氧化性强,不会因高温使用后吸波性能变差。

3. 温度适应性

●贮存温度:-70~150℃ ;

●工作温度:-65~150℃;

●温度冲击:-65~125℃;100次;

●变温速率:快速温度变化≥20/min-65~85℃);

●相对湿度:15%~95%

●经液氮作用后结构仍保持完整。

●具有良好的耐盐雾、霉菌能力。


4. 应用 多应用于微波暗室、EMC暗室、雷达及微波通信系统的杂波抑制、抗电磁干 扰等领域。


5.     反射率测试

  按 GJB5239-2004《射频吸波材料吸波性能测试方法》建立拱形法射频吸波 材料反射率测试系统,主要由拱形架、样板支架、发射天线和接收天线、矢量网 络分析仪和计算机等组成。测试系统的发射和接收天线分别安装在一段圆弧框 上,样板中心与拱形框的圆心重合,样板支架周围铺设高性能 RAM 以降低背景 反射。拱形架上装有喇叭天线,可任意移动,可在不同的入射角、不同的极化方 式下使用。测试时将被测件放置于金属板上,通过收发天线进行测试,在由相应 的测试软件进行数据收集和计算,最终得到反射率的测试结果。该测试系统性能 稳定,并用标准样板和专业测试单位(航天部 院 207 所)用准动态 RCS 系统的结果进行了比对,确认了自建测试系统的可信性(详见后)。该系统能对交付的产品进行反射率测试。












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